XF802-P30厚度表用來(lái)測(cè)量薄膜,紙張,塑料等薄片材料的厚度。該儀器可以和Testex拓片紙配合使用,測(cè)量表面處理后的表面粗糙度。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5
技術(shù)指標(biāo):
儀器型號(hào) | XF802-P30 |
測(cè)量范圍 | 0-1000 μm |
顯 示 | 1 μm |
儀器尺寸 | 125*95*25 mm |
重 量 | 270 g |
裝 箱 單 | SP300主機(jī), 說(shuō)明書和合格證 |